2010年8月15日
メカトロニクス9月号発行中

特集
●センサ・計測・制御
●環境保全・安全対策
●食品・薬粧・ケミカル（分析展・科学機器展）
●自動認識・物流・セキュリティ・RFID（自動認識総合展）
●計測・試験・分析機器（分析展・科学機器展）

巻頭インタビュー
●分光測定技術を応用した太陽電池評価装置
　〜“光”をキーワードにしたコア技術で事業展開〜

特集インタビュー
●高速通信／多軸測定／管理が可能なネットワーク計測システム
　―測長ゲージのインテリジェント化と省配線多軸計測システムで実現―