実装技術7月号2012年特別編集版 page 15/38

このページは 実装技術7月号2012年特別編集版 の電子ブックに掲載されている15ページの概要です。
秒後に電子ブックの対象ページへ移動します。
「電子ブックを開く」をクリックすると今すぐ対象ページへ移動します。

概要：
17JTAGバウンダリスキャンテストの革新的ソフトウエア技術 JTAGバウンダリスキャンテストの革新的ソフトウエア技術設計・解析・シミュレーション23 　①テスト容易設計の確保（DFT：Design for Test）　②デバッグ効....

17JTAGバウンダリスキャンテストの革新的ソフトウエア技術 JTAGバウンダリスキャンテストの革新的ソフトウエア技術設計・解析・シミュレーション23 　①テスト容易設計の確保（DFT：Design for Test）　②デバッグ効率の改善　③基板改版サイクルの削減　④テストカバレッジの向上　⑤不良解析の効率化　　　設計とテストの同時進行　XJTAG 社の高度なソフトウエア技術によってバウンダリスキャンテストツールの容易性や再利用性に革新が起こる以前は、一般に設計側でテスト容易性を意図されることは多くなく、カバレッジ向上を目指した設計の最適化はされてこなかった。そしてテスト担当者は設計済みの基板に対してテストを考慮しなければならない。　設計とテストの双方に恩恵をもたらして、プロジェクトの早期段階から協調開発を後押しするツールスイートのパイオニアとして、XJTAG は今後の標準となる手法の普及を促進している（図2）。　　　テストプログラム開発の　　　自動化支援と解析1.テストライブラリの再利用とネットリスト解析機能　XJTAG の中核となるXJEase は、JTAGバウンダリスキャンテストの専用プログラミング言語である。構文は他の高級プログラミング言語と同様のループ構造や、構文・データタイプチェックなどをもち、容易に習熟することができる。加えてJTAG テストに特化した機能として、無制限幅でビットフィールドを扱うことや、バウンダリスキャン命令を実行することができる。　これまでのATE テストシステムはテストベクタと単純なパス/ フェイル判定をベースにしている。そこで使用される1、0からなるテストベクタは抽象度がきわめて低い。マイクロプロセッサの高級プログラミング言語に比較したアセンブラコードと同様に、何らかの変更があるとメンテナンスに多大なオーバヘッドがかかり、エラーが生じやすい。それゆえ、ある製品向けに作られたテストモジュールを次の製品へ再利用することは、たとえ多くの共通デバイスが採用されたとしても容易でない。　これに対して、XJTAG が世に先駆けて送り出した『デバイスセントリック』なテストなら、デバイスごとに実装されたテストモジュールは、ネットリスト解析機能から得られる情報を外部参照して、あらゆる設計で容易に再利用できる。これにはオブジェクト指向プログラミングや、革新的なソフトウエア技術であるドメイン・スペシフィック言語が活用されている（図3、図4）。XJTAG 社、富士設備工業( 株)図3　テストライブラリはあらゆる設計で容易に再利用できる図4　JTAG チェイン設定も自動化支援される